- Main
- Engineering
- Thin film materials: stress, defect...
Thin film materials: stress, defect formation and surface evolution
L. B. Freund, S. SureshՈրքա՞ն է ձեզ դուր եկել այս գիրքը:
Ինչպիսի՞ն է բեռնված ֆայլի որակը:
Բեռնեք գիրքը` գնահատելու դրա որակը
Ինչպիսի՞ն է բեռնված ֆայլերի որակը:
This book provides comprehensive coverage of stress, defect formation and surface evolution in thin films. With its balanced coverage of theory, experiment and simulation and many homework problems, the text will be essential reading in senior undergraduate and graduate courses on thin films.
Կատեգորիաներ:
Տարի:
2003
Հրատարակում:
1
Հրատարակչություն:
Cambridge University Press
Լեզու:
english
Էջեր:
820
ISBN 10:
0521822815
ISBN 13:
9780521822817
Սերիաներ:
Cambridge Pocket Clinicians
Ֆայլ:
PDF, 12.40 MB
Ձեր թեգերը:
IPFS:
CID , CID Blake2b
english, 2003
Կարդալ Առցանց
- Ներբեռնել
- pdf 12.40 MB Current page
- Checking other formats...
- Փոխարկել դեպի
- Unlock conversion of files larger than 8 MBPremium
Ցանկանու՞մ եք գրախանութ ավելացնել: Խնդրում ենք կապնվել մեզ հետ support@z-lib.do միջոցով
Ֆայլը կուղարկվի ձեր email-ին 1-5 րոպեի ընթացքում:
1-5 րոպեի ընթացքում ֆայլը կուղարկվի ձեր Telegram-ին։
Ուշադրություն․ համոզվեք, որ ձեր հաշիվը կապված է Z-Library-ի Telegram բոտին:
1-5 րոպեի ընթացքում ֆայլը կուղարկվի ձեր Kindle սարքին։
Նշում. Դուք պետք է հաստատեք յուրաքանչյուր գիրքը, որն ուղարկում եք Kindle-ին: Ստուգեք ձեր էլփոստի մուտքի արկղը՝ պետք է ստանաք Amazon Kindle Support-ից հաստատող էլ. նամակ։
Փոխարկումը դեպի կատարվում է
Փոխարկումը դեպի ձախողվել է
Premium benefits
- Send to eReaders
- Increased download limit
- File converter
- Բացել որոնման արդյունքները
- More benefits